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Vergleich von Messung und Modellrechnung der Strahlugstemperatur am Beispiel der Thermalkartierung München / Rudolf Richter und Kurt Beier. DFVLR, Institut für Optoelektronik, Oberpfaffenhofen

PPN (Catalogue-ID): 016408284
Personen: Richter, Rudolf
Beier, Kurt
Cooperations/Conferences: Institut für Optoelektronik
Format: Book Book
Language: German
Published: Köln, Wiss. Berichtswesen der DFVLR, 1985
Series: Forschungsbericht / Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt, DFVLR (85-06)
Notes: Literaturverz. S. 76 - 77
Mit engl. Zsfassung
Physical Description: 80 S, graph. Darst.

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