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Secure Scan Chain and Debug Interface / Frank Vater ; Gutachter: Peter Langendörfer, Heinrich Theodor Vierhaus, Michael Gössel

... Ein möglicher Ansatz den geheimen Schlüssel zu erhalten, ist der Missbrauch von Test- und Debugschnittstellen. Diese Schnittstellen bieten einen lesenden und schreibenden Zugang zu allen internen Speichern eines ASICs und sind in der Regel uneingeschränkt, d.h. auch durch unbefugte Dritte, nutz... Full description

PPN (Catalogue-ID): 1002623464
Nebentitel: Sichere Scan Chain und Debugschnittstelle
Personen: Vater, Frank [VerfasserIn]
Langendörfer, Peter [Gutachter]
Vierhaus, Heinrich Theodor [Gutachter]
Gössel, Michael [Gutachter]
Format: eBook eBook
Language: English
Published: Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, 2017
Hochschule: Dissertation, Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, 2017
Basisklassifikation: 54.38 Computersicherheit
Subjects:

Chiffrierung

Kryptoanalyse

Schnittstelle

Chiffrierung / Kryptoanalyse / Schnittstelle

Formangabe: Hochschulschrift
Physical Description: 1 Online-Ressource

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520 |a ... Ein möglicher Ansatz den geheimen Schlüssel zu erhalten, ist der Missbrauch von Test- und Debugschnittstellen. Diese Schnittstellen bieten einen lesenden und schreibenden Zugang zu allen internen Speichern eines ASICs und sind in der Regel uneingeschränkt, d.h. auch durch unbefugte Dritte, nutzbar. Somit können auch Schlüssel für kryptografische Verfahren darüber ausgelesen werden. - In dieser Arbeit wird eine neuartige Gegenmaßnahme gegen Seitenkanalangriffe auf Test- und Debugschnittstellen vorgestellt. Der Ansatz basiert auf einem identischen Schlüsselpaar. Um den Chip zu testen und zu debuggen muss des Nutzer den geheimen Schlüssel in einen OTP Speicher schreiben. Dieser wird mit dem goldenen Schlüssel verglichen, ... 
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