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Integration einer Zuverlässigkeitsbewertung und -optimierung in den RT- und Gate-Level Entwurfsfluss / von Dipl.-Ing. Malte Christoph Metzdorf ; Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Wolfgang Nebel, Prof. Dr.-Ing. Steffen Paul

Durch die Nutzung immer kleinerer Strukturgrößen bei der Herstellung digitaler Systeme entstehen durch Alterung und Zuverlässigkeit neue Probleme. In dieser Arbeit werden Simulationsmethoden entwickelt, die in einem Industrieflow integriert werden. Anhand des bedeutenden Alterungseffektes Bias Tempe... Full description

PPN (Catalogue-ID): 1030349908
Nebentitel: Integration of a reliability estimation and optimization in the RT and gate level design flow
Personen: Metzdorf, Malte Christoph [VerfasserIn]
Nebel, Wolfgang [Akademischer betreuerIn]
Paul, Steffen [GutachterIn]
Format: eBook eBook
Language: German
Published: Oldenburg, 2018
Hochschule: Dissertation, Carl von Ossietzky Universität Oldenburg, 2018
Subjects:

Alterung

Simulation

Zuverlässigkeit

Alterung / Simulation / Zuverlässigkeit

Lokale Schlagwörter:

Alterung / Verlustleistung / Halbleiter / Transistor / Kraftfahrzeugindustrie / Fertigungstechnik (DE-101)

Formangabe: Hochschulschrift
Physical Description: 1 Online-Ressource (179 Seiten, 17 MB)

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520 |a Durch die Nutzung immer kleinerer Strukturgrößen bei der Herstellung digitaler Systeme entstehen durch Alterung und Zuverlässigkeit neue Probleme. In dieser Arbeit werden Simulationsmethoden entwickelt, die in einem Industrieflow integriert werden. Anhand des bedeutenden Alterungseffektes Bias Temperature Instability wird ein Alterungsmodell entwickelt. Dabei werden die Einflussgrößen der Alterung, wie Temperatur und Versorgungsspannung, berücksichtigt und durch eigene Modelle simuliert. Diese ermöglichen die Simulation von komplexen Nutzungsszenarien. Da Zeiträume von mehreren Jahren simuliert werden, wurde bei der Entwicklung dieser Modelle darauf geachtet, dass sie effizient parallel ausgeführt werden können, um sie auf Manycore-Systemen und Grafikkarten zu beschleunigen. Abschließend wird die vorgestellte Methodik auf ein Industriedesign angewendet: Anhand eines 32bit-Prozessors wird exemplarisch die Alterung über mehrere Jahre simuliert. <dt.> 
520 |a The use of smaller structure sizes in the production of digital systems raises new problems caused by aging and reliability. This thesis develops simulation methods that are integrated into an industry flow and develops an aging model on the basis of the important aging effect Bias Temperature Instability. Parameters of the aging effect such as temperature and supply voltage are considered and simulated through own models that allow the simulation of complex use cases. The simulated time frames can be as long as several years. Therefore the models can be efficiently parallelized on Manycore-Systems and graphics processing units. Finally the presented method is applied to an industrial design and allows the aging simulation of an 32bit-processor over several years. <engl.> 
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