schliessen

Filtern

 

Bibliotheken

RF probe-induced on-wafer measurement errors in the millimeter-wave frequency range / by Daniel Müller

PPN (Catalogue-ID): 104342024X
Personen: Müller, Daniel [VerfasserIn]
Format: eBook eBook
Language: English
Published: Karlsruhe, KIT Scientific Publishing, [2018]
Series: Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (Band 89)
Hochschule: Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2018
Formangabe: Hochschulschrift
Physical Description: 1 Online-Ressource (xii, 180 Seiten), Illustrationen.
ISBN: 978-3-7315-0822-9

Similar Items

Vorhandene Hefte/Bände

more (+)

Informationen zur Verfügbarkeit werden geladen

Staff View
LEADER 06097cam a2201441 4500
001 104342024X
003 DE-627
005 20181222010951.0
007 cr uuu---uuuuu
008 181127s2018 xx |||||om 00| ||eng c
015 |a 19,O02  |2 dnb 
016 7 |a 1174633484  |2 DE-101 
020 |a 9783731508229  |9 978-3-7315-0822-9 
024 7 |a urn:nbn:de:0072-843922  |2 urn 
024 7 |a 10.5445/KSP/1000084392  |2 doi 
035 |a (DE-627)104342024X 
035 |a (DE-576)514532920 
035 |a (DE-599)BSZ514532920 
035 |a (OCoLC)1077735394 
035 |a (DE-101)1174633484 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rda 
041 |a eng 
044 |c XA-DE-BW 
082 0 4 |a 621.3  |q DE-101 
100 1 |a Müller, Daniel  |e verfasserin  |0 (DE-588)1172326622  |0 (DE-627)1041144970  |0 (DE-576)514532874  |4 aut 
245 1 0 |a RF probe-induced on-wafer measurement errors in the millimeter-wave frequency range  |c by Daniel Müller 
264 1 |a Karlsruhe  |b KIT Scientific Publishing  |c [2018] 
300 |a 1 Online-Ressource (xii, 180 Seiten)  |b Illustrationen 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a Computermedien  |b c  |2 rdamedia 
338 |a Online-Ressource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik  |v Band 89 
502 |b Dissertation  |c Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT)  |d 2018 
583 1 |a la  |z DNB  |2 pdager 
655 7 |a Hochschulschrift  |0 (DE-588)4113937-9  |0 (DE-627)105825778  |0 (DE-576)209480580  |2 gnd-content 
751 |a Karlsruhe  |0 (DE-588)4029713-5  |0 (DE-627)106273159  |0 (DE-576)208983864  |4 uvp 
776 0 8 |i Erscheint auch als  |n Druck-Ausgabe  |a Müller, Daniel  |t RF probe-induced on-wafer measurement errors in the millimeter-wave frequency range  |d Karlsruhe : KIT Scientific Publishing, 2018  |h xii, 180 Seiten  |w (DE-627)1644828758  |w (DE-576)514532947  |z 9783731508229 
776 0 8 |i Erscheint auch als Druck-Ausgabe:  |a Müller, Daniel: RF probe-induced on-wafer measurement errors in the millimeter-wave frequency range 
810 2 |a Universität Karlsruhe  |b Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik  |t Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik  |v Band 89  |9 89  |w (DE-627)65488269X  |w (DE-576)306650274  |w (DE-600)2601513-4 
850 |a la 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000084392  |x Verlag  |z Kostenfrei  |3 Volltext 
856 4 0 |u http://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:0072-843922  |v 2019-02-07  |x Resolving-System  |3 Volltext 
856 4 0 |u http://d-nb.info/1174633484/34  |v 2019-02-07  |x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek  |3 Volltext 
856 4 0 |u http://www.ksp.kit.edu  |q application/pdf  |v 2019-02-07  |x Verlag  |3 Volltext 
856 7 |u urn:nbn:de:0072-843922  |2 urn 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_20 
912 |a SYSFLAG_1 
912 |a GBV_KXP 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_21 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_22 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_23 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_40 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_60 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_63 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_105 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_110 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_132 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_161 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_293 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_2014 
912 |a GBV-ODiss 
912 |a GBV_ILN_2403 
951 |a BO 
980 |2 20  |1 01  |b 1848144032  |x 0084  |y x  |z 08-02-19 
980 |2 21  |1 01  |b 1848174322  |x 0046  |y z  |z 08-02-19 
980 |2 22  |1 01  |b 1848204914  |h SUBolrd  |x 0018  |y xu  |z 08-02-19 
980 |2 23  |1 01  |b 1848234260  |h olr-d  |x 0830  |y x  |z 08-02-19 
980 |2 40  |1 01  |b 1848276273  |x 0007  |y xsn  |z 08-02-19 
980 |2 60  |1 01  |b 1848306857  |h OLRD  |x 0705  |y z  |z 08-02-19 
980 |2 63  |1 01  |b 1848334303  |h ORD  |x 3401  |y x  |z 08-02-19 
980 |2 105  |1 01  |b 1848535163  |x 0841  |y z  |z 08-02-19 
980 |2 110  |1 01  |b 1848374607  |x 3110  |y x  |z 08-02-19 
980 |2 132  |1 01  |b 1848404697  |h OLR-DISS  |x 0959  |y x  |z 08-02-19 
980 |2 161  |1 01  |b 1848435835  |h ORD  |x 0960  |y z  |z 08-02-19 
980 |2 293  |1 01  |b 1848502990  |h ORD  |x 3293  |y z  |z 08-02-19 
980 |2 2014  |1 01  |b 3395165787  |x 20592  |y l01  |z 27-11-18 
980 |2 2403  |1 01  |b 3395165868  |e n  |x 21403  |y l01  |z 10-12-18 
981 |2 20  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 21  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 22  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 23  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 40  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 60  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 105  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 110  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 132  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 161  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 293  |1 01  |r http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0072-843922 
981 |2 2403  |1 01  |r http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000084392 
982 |2 2014  |1 01  |8 00  |a Universitätsverlag Karlsruhe 
982 |2 2014  |1 01  |8 00  |a KIT Scientific Publishing 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Halbleiterschaltungen 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Messtechnik 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Hochfrequenztechnik 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Elektromagnetische Feldsimulation 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Monolithic Microwave Integrated Circuits 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Radio Frequency 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a On-Wafer Measurements 
982 |2 2014  |1 01  |8 01  |a Electromagnetic Field Simulation 
983 |2 60  |1 01  |8 10  |a ho 
985 |2 20  |1 01  |a OLRD 
985 |2 110  |1 01  |a OLRD 
995 |2 22  |1 01  |a SUBolrd 
995 |2 23  |1 01  |a olr-d 
995 |2 60  |1 01  |a OLRD 
995 |2 63  |1 01  |a ORD 
995 |2 132  |1 01  |a OLR-DISS 
995 |2 161  |1 01  |a ORD 
995 |2 293  |1 01  |a ORD 
998 |2 23  |1 01  |0 2019-02-08:08:26:32