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Studien zum Einsatz der Raster-Tunnel-Mikroskopie und der Lokalen-Tunnel-Spektroskopie zur Nanocharakterisierung von Oberflächenmorphologien sowie der physikalischen und chemischen Oberflächeneigenschaften unter Umgebungsbedingung / von Ralf-Jürgen Schirach

PPN (Catalogue-ID): 311730159
Personen: Schirach, Ralf-Jürgen
Format: Book Book
Language: German
Published: 1998
Hochschule: Frankfurt (Main), Univ., Diss., 1998
Basisklassifikation: 35.25
33.68
Formangabe: Hochschulschrift
Physical Description: V, 229 S, Ill., graph. Darst.

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