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Strukturelle Untersuchung der amorph/kristallinen Grenzfläche mittels quantitativer hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie an den Systemen a-Si/c-Si und a-Ge/c-Si : = Structural investigation of the amorphous/crystalline interface by means of quantitative high-resolution transmission electron microscopy on the systems a-Si/c-Si and a-Ge/c-Si / vorgelegt von Karsten Thiel

In dieser Arbeit wurden die Grenzflächen zwischen kovalent gebundenen kristallinen und amorphen Materialien im Hinblick auf die induzierte Ordnung im amorphen Material in Grenzflächennähe mittels hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (HREM) untersucht. Als Materialsystem diente zum eine... Full description

PPN (Catalogue-ID): 525690212
Nebentitel: Structural investigation of the amorphous/crystalline interface by means of quantitative high-resolution transmission electron microscopy on the systems a-Si/c-Si and a-Ge/c-Si
Personen: Thiel, Karsten
Format: eBook eBook
Language: German
Sprache der Zusammenfassung: Deutsch
Published: 2006
Hochschule: Göttingen, Univ., Diss., 2006
Basisklassifikation: 33.05
33.61
33.66
Formangabe: Hochschulschrift
Physical Description: Online Ressource (118 S., 12.271 KB), Ill., graph. Darst.

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520 |a In dieser Arbeit wurden die Grenzflächen zwischen kovalent gebundenen kristallinen und amorphen Materialien im Hinblick auf die induzierte Ordnung im amorphen Material in Grenzflächennähe mittels hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (HREM) untersucht. Als Materialsystem diente zum einen die Grenzfläche zwischen amorphem Germanium und kristallinem Silizium und zum anderen die Grenzfläche zwischen amorphem und kristallinem Silizium. Um den Einfluss der kristallinen Ordnung auf das amorphe Material zu quantifizieren, wurden die HREM-Abbildungen entlang der Grenzfläche periodisch gemittelt. Auf diese Weise konnten die Intensitätsanteile, die mit der Periode der Gitterabbildung korreliert sind, von den statistischen Intensitätsfluktuationen getrennt werden, welche für Abbildungen amorpher Materialien charakteristisch sind ... 
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